8-Octubre-2014
Fuente: Secretaría de Educación Querétaro
En Representación del Gobernador de Querétaro, José Calzada Rovirosa, el Secretario de Educación, Fernando De la Isla Herrera, presidió esta mañana la Ceremonia Inaugural del Simposio de Metrología 2014.
En el acto, el Titular de la Secretaría indicó que el Centro Nacional de Metrología (CENAM) organiza cada dos años un Simposio de Metrología desde el año 2002, con la finalidad de contribuir a la difusión de la cultura metrológica en nuestro país.
Lo anterior, tendiendo como objetivos principales: Contribuir al fortalecimiento del Sistema Metrológico Nacional; fomentar la colaboración, la formación de personal y el intercambio de información en metrología; establecer y estrechar vínculos entre los miembros de la comunidad metrológica; disponer de un foro en el que se presenten soluciones a problemas específicos de medición; obtener actualización en nuevas técnicas e instrumentos de medición de forma práctica; conocer y dar a conocer servicios y productos especializados en metrología , entre otros, resaltó.
Fernando de la Isla Herrera enfatizó que este foro es una importante oportunidad para la comunidad de presenciar ponencias de alto contenido técnico impartidas por personal del mayor reconocimiento técnico-científico en el campo de las mediciones, así como para difundir el quehacer técnico científico que se realiza en el país.
Cabe destacar la participación de miembros de la comunidad científica, de los laboratorios nacionales de metrología de diversos países, de los laboratorios de calibración y ensayos, de la industria en general, de los centros de investigación y académicos, para presentar sus avances y logros en materia de métodos e instrumentos de medición, patrones y materiales de referencia, estadística aplicadas a las mediciones, entre otros temas.
En su momento, el Director General del CENAM, Héctor Nava Jaimes, agregó que “este Simposio de 2014 tiene relevancia para nuestra Institución debido a que se celebrará en el marco del XX Aniversario del CENAM y es nuestra intención darle el mayor realce posible invitando a expertos del mejor nivel técnico y reconocimiento tanto nacional como internacional, y en particular a los Directores de los Institutos Nacionales de Metrología para compartir sus experiencias y el devenir de la Metrología”.
Asimismo, la Subsecretaria de Competitividad y Normatividad de la Secretaria de Economía, María del Rocío Ruiz Chávez, comentó que el Simposio se ha convertido en uno de los principales foros tecnológicos y de difusión del conocimiento en su género a nivel internacional destacando la participación de diferentes Institutos Nacionales de Metrología del mundo.
En el evento también estuvieron presentes: el Ex Director General de Normas de la Secretaria de Economía, Román Serra Castaños; el Director de la oficina internacional de Pesas y Medidas, Martín J. T. Milton; el Presidente del Instituto Nacional de Metrología de Alemania, Joachin Ullrich; el Director General de Normas de la Secretaria de Economía, Alberto Esteban Marina; el Director de Vinculación y Desarrollo Institucional del CONACYT, Rafael Ortega Reyes; el Director del Instituto Nacional de Metrología de Japón, Coichi Chiba; el Director de la Oficina de Programas Especiales del Instituto Nacional de Estándares y Tecnología de E.E.U.U, Richard Cavanagh, entre otras distinguidas personalidades.
